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QT-3108SW 動態測試方案

低雜訊 247/TPAK 動態測試方案:由 QT-3108SW 動態測試系統與重力式分選機組成。
支援 TO247/TPAK SIC MOS IGBT 封裝元件動態參數測試。

多重安全保護
  支援過載欠壓保護
  RG 1-512線性可調
  負載電感10-1100uH步進10uH
  短路保護<1us
  支援KGD測試針卡保護電路
測試需求,全方位覆蓋

QT-3108SW功能齊全,支援SW、ISC 、TRR(系列參數)、
ILATCH、SCSOA、QG參數測試,選配UIS。

應用環境

測試應用板與分選機直連

開通/關斷延遲TDON / TDOFF

測量範圍:0~2us
穩定度:±3%

上升/下降時間TR / TF

測量範圍:0~2us
穩定度:±3%

反向恢復時間TRR

測量範圍:0~5us
穩定度:±3%

反向恢復電荷QRR

測量範圍:0~10uC;
穩定度:±3%

總柵電荷QG

測量範圍:0~100uC;
穩定度:±3%

短路電流SCSOA

測量範圍:0~5000 A;
穩定度:±3%

鉗住電流ILATCH

測量範圍:25~1000 A;
穩定度:±3%

閾值電壓VTH

測量範圍:0~10.0V;
穩定度:±3%



< 30nH
雜散電感
整合化測試,
解決線材分佈電感引起測試結果不良

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