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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
重力式双轨道分选机

适用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封装。 常高温双轨并测，比单轨效率提高80%。 动态测试Docking结构杂散低于30uH。 提供30°C~200°C可调高温测试环境。



悬浮电源

多Site并行

多通道高精度

支持多种扩展

型号 重力式双轨道分选机
产品介绍 适用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封装。
功能 ? 常高温双轨并测，比单轨效率提高80%。
? 动态测试Docking结构杂散低于30uH。
? 提供30°C~200°C可调高温测试环境。


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